Tektronix专家解读高速串行测试

Tektronix专家解读高速串行测试

标签: Tektronix 高速串行 测试

公司:Tektronix

分类:企业宣讲

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课程简介
泰克2009年春季创新论坛邀请了两位高速串行方面的“权威级”人物——Jit Lim和Sarah Boen,他们都拥有丰富的客户经验。其中,Jit Lim拥有20多年测试测量行业的从业经验,他在信号完整性和高速串行信号的物理层测量和分析方面经验丰富。Jit在泰克工作了23年,出版了大量的技术论文,并帮助众多世界顶尖技术公司解决来自测试测量上的棘手挑战。而Sarah Boen目前是泰克技术解决方案的市场经理,被称为“泰克HSS技术权威”。她在泰克工作了10年以上,对泰克的产品非常熟悉。
不仅如次,他们本人都是富有激情的演讲者!听听这两位专家是如何看待高速串行的最新趋势,以及当前所面临的测试挑战的。
泰克创新论坛演讲资料下载请登陆:
http://www2.tek.com/cnweb/TIF/EEPW.html
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