首 页| 下 载| 论 坛| 博 客| Webinar| 电路图
EETV首页 > 硬件设计 > 电路设计 > 数字集成电路 >

减少精密转换设计周期中的挑战

减少精密转换设计周期中的挑战

分享到:
视频名称:
减少精密转换设计周期中的挑战
浏览次数:
446
播放时间:
00:02:38
标签:
ADISAR ADC数据采集
简介:
了解ADI基于SAR ADC的最新精密数据采集子系统,该系统集行业领先的性能、小尺寸以及低功耗特性于一体,与传统解决方案相比,更易于使用。
验 证 码: